光學(xué)隔振平臺(tái)又稱光學(xué)面包板、光學(xué)桌面、科學(xué)桌面、實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，是一個(gè)水平穩(wěn)定的平臺(tái)。一般平臺(tái)需要隔振等措施，保證不受外界因素干擾，科學(xué)實(shí)驗(yàn)才能正常進(jìn)行。

　　1.光學(xué)隔振平臺(tái)平整度（≤0.05㎜/㎡）

　　指數(shù)越小，臺(tái)面越平坦，光路越容易調(diào)整。一般工廠要求的平面度小于0.05㎜/㎜，檢測方法一般有:光電自準(zhǔn)直儀、光學(xué)平面度儀、水平儀、激光平面度儀等。一般實(shí)驗(yàn)室安裝的平臺(tái)的平面度是用光電準(zhǔn)直儀和光學(xué)平面度檢查儀檢測的，計(jì)算后得到。

　　2、光學(xué)隔振平臺(tái)固有頻率（≤2Hz）

　　固有頻率也叫自然頻率和自然頻率。只有當(dāng)環(huán)境擾動(dòng)頻率（F）與固有頻率（fo）之比F/FO＞√2時(shí)，系統(tǒng)才能有隔振作用。因此，固有頻率越低，隔振效果越好。多點(diǎn)測量一般采用振動(dòng)頻譜分析儀和便攜式振動(dòng)分析儀。如果供應(yīng)商沒有測量用的儀器，你也可以用下面的方法:用手壓下（或側(cè)推）平臺(tái)，然后迅速松開，使其上下（或左右、前后）大幅度振動(dòng)。比如一秒往復(fù)一次是1Hz，兩次是2Hz，以此類推。

　　3.光學(xué)隔振平臺(tái)表面紋理和粗糙度（Ra≤0.8μm）

　　這一指標(biāo)的意義在于確保其具有光滑但不反光的工作表面。良好的表面粗糙度有利于實(shí)驗(yàn)儀器的保護(hù)，產(chǎn)品出廠的要求一般在Ra≤0.8μm m以下，粗糙度可以通過對比樣和粗糙度儀目測檢測，如果是現(xiàn)場檢測，可以使用粗糙度儀。